可靠性恒溫恒濕測試設(shè)備

設(shè)備介紹：

可靠性恒溫恒濕測試設(shè)備用于測試電工、電子及其它非易燃易爆物品的高低溫性能，濕熱性能的試驗。主要適用于航天、軍工、艦船、電工、電子、醫(yī)療器械等整機及零部件的高低溫濕度試驗箱。供用戶對整機（或部件）、材料、電器、儀器、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候溫度適應(yīng)性試驗，以便對試品或試品試驗行為作出評價及評估。特別適用于光纖、LCD、晶體、光伏組件、電池、計算機、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

可靠性恒溫恒濕測試設(shè)備技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)部尺寸：W×H×D(mm) 500*600*500 

外部尺寸：W×H×D(mm) 1050*1700*1030 

溫度范圍：A:0℃～150℃;B-20℃～150℃;-40℃～150℃;-60℃～150℃;-70℃～150℃

濕度范圍：20%～98%RH

溫濕度均勻度：±2℃,±3%RH

溫濕度波動度：±0.3℃,±2.5%RH

升溫速率：約3℃/min（滿足國家標準）

降溫速率：約1℃/min（滿足國家標準）

可靠性恒溫恒濕測試設(shè)備滿足標準：

·GB/T10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

·GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件

·GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

·GB/T2423.1-2008低溫試驗Aa , Ab

·GB/TT2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法.

·GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗 Ca

·MIL-STD810D方法502.2

·GB/T2423.4-2008（MIL-STD810）方法507.2程序3

·GJB150.9-1986軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法-濕熱試驗

·GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗 

可靠性恒溫恒濕測試設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計：

內(nèi)箱材質(zhì)：測試區(qū)內(nèi)箱選擇優(yōu)質(zhì)不銹鋼板 ( SUS # 304 )

外箱烤漆或者不銹鋼板可選。

箱內(nèi)盤架：可活動調(diào)整柵盤架與不銹鋼條狀柵盤二只(盤架每間格 5.0 cm)

箱門：采雙道隔熱氣密迫緊,有效隔絕外部溫度泄漏

同溫層結(jié)構(gòu)設(shè)計：有效避免箱體頂部凝結(jié)之技術(shù)

外箱燈源：高亮度照明燈 

觀測視窗：觀察視察尺寸約 ( W*L 28 * 35 cm )

視窗防汗設(shè)計：采電熱器裝置，防止水氣凝結(jié) ( 40 W )

測試孔：可外接測試電源線及信號用 ( 直徑50 mm )

機臺滑輪：采滑輪移動調(diào)整擺放位置與強力螺栓固定位置(200Kg / 輪 )