小型恒溫老化箱

設(shè)備介紹：

老化試驗(yàn)箱有很多種類型，高低溫老化試驗(yàn)箱就是其中一種，小型恒溫老化箱主要是給硅膠禮品、橡膠制品、硅膠飾品、數(shù)碼配件、電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、光電產(chǎn)品等工業(yè)產(chǎn)品檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)是否能適應(yīng)在高溫或者低溫或者高低溫（交變）循環(huán)變化下的使用、生產(chǎn)、檢測及儲(chǔ)存。本設(shè)備具備有單獨(dú)高溫老化的功能、也具備單獨(dú)低溫老化，還可高低溫交變老化、高低溫循環(huán)老化、高低溫恒定老化等功能。高低溫老化試驗(yàn)箱有模擬大氣環(huán)境中高低溫溫度的變化規(guī)律。主要針對于工業(yè)成品或者半成品以及其元器件及其它材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。常用于工業(yè)產(chǎn)品鑒定，設(shè)計(jì)，改進(jìn)及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。（更多聯(lián)系龍小姐13316686114）
小型恒溫老化箱技術(shù)參數(shù)
1.內(nèi)部尺寸：(W×H×D)50×60×50cm

2.外部尺寸：(W×H×D)108×155×110cm
3.重量：約250Kg
4.調(diào)溫方式：平衡調(diào)溫(BTHC)PID智能調(diào)節(jié)
5.溫度范圍：0 ℃， -20 ℃， -40 ℃， -60 ℃， -70 ℃ ~150 ℃ ; 20%-98%R.H
6.溫度控制精度：±0.2℃;
7.均勻度：±0.5℃ ~±0.2℃;
8.解析精度：±0.01%℃;
9.升溫速率：≥ 3°C/min
10.降溫速率：平均1°C/min
11.內(nèi)箱材質(zhì)：SUS#304 優(yōu)質(zhì)不銹鋼板
13.外箱材質(zhì)：SUS#304拉絲不銹鋼板或防銹處理冷軋鋼板(烤漆)
14.絕緣材料：超細(xì)玻璃棉 + 聚胺脂泡沫
15.制冷方式：機(jī)械式二元制冷方式
16.制冷機(jī)：全封閉(法國泰康或德國谷輪)壓縮機(jī)
17.制冷劑：R23/ R404A
18.冷凝方式：風(fēng)冷或水冷
19.加熱器：鎳鉻合金不銹管加熱器
20.鼓風(fēng)機(jī)：離心風(fēng)機(jī)
21.氣流方式：寬帶式強(qiáng)迫氣流循環(huán)(上出下進(jìn))22.控制器操作界面：液晶觸摸顯示屏，中英文切換
23.運(yùn)轉(zhuǎn)方式：恒定運(yùn)轉(zhuǎn)+程序運(yùn)轉(zhuǎn)
24.程序記憶容量：120 組可編程序、每個(gè)程序最大100 (段)
25.設(shè)定指標(biāo)范圍：溫度：-100℃+300℃
26.分辨率：溫度：0.1℃
27.輸入：PT100或T型熱電偶
28.控制方式：PID控制
29.通訊功能：RS-232 接口
小型恒溫老化箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
①GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
②GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
③GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
④GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；
⑤GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；
⑥GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；。
⑦M(jìn)IL-STD810D方法502.2 美國軍用標(biāo)準(zhǔn)；
⑧IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)
⑨EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化